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介紹熒光光譜儀測量的基本原理

 更新時間:2018-11-13 點擊量:2352
   介紹熒光光譜儀測量的基本原理
  熒光光譜儀是一種快速、無損、多元素同時測定的分析技術,已廣泛應用于材料、冶金、地質、生物醫學、環境監測、天體物理、文物考古、刑事偵察、工業生產等諸多領域,可為相關生產企業提供一種可行的、低成本的、及時的檢測、篩選和控制有害元素含量的有效途徑。本文就熒光光譜儀的工作原理及其應用做簡單闡述。
  熒光光譜儀的基本原理:
  當一束高能粒子與原子相互作用時,如果其能量大于或等于原子某一軌道電子的結合能,將該軌道電子逐出,對應的形成一個空穴,使原子處于激發狀態。此后在很短時間內,由于激發態不穩定,外層電子向空穴躍遷使原子恢復到平衡態,以降低原子能級。當較外層的電子躍遷(符合量子力學理論)至內層空穴所釋放的能量以輻射的形式放出,便產生了熒光。熒光的能量與入射的能量無關,它只等于原子兩能級之間的能量差。由于能量差*由該元素原子的殼層電子能級決定,故稱之為該元素的特征射線,也稱熒光x射線或x熒光。
  熒光光譜法就是由x射線光管發生的一次x射線激發樣品,試樣可以被激發出各種波長的特征x射線熒光,需要把混合的x射線按波長(或能量)分開,分別測量不同波長(或能量)的x射線的強度,以進行定性和定量分析的方法。該方法是一種非破壞性的儀器
  熒光光譜儀分析方法,常用的有能量色散型和波長色散型兩種類型。廣泛應用于鋼鐵、鐵礦石、爐渣、石灰石、螢石、耐火材料、地質等行業的多種元素的測定。

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